gemessen, deren Projektionen auf C in der Mitte zwischen je zwei Punkten C lagen, so daß man erhielt:
In ähnlicher Weise wurde auch in der Ebene A verfahren. Durch Messung an je drei Punkten wurde die Höhe der Oberkanten D der Kondensatorplatten über der Grundfläche bestimmt; und zwar wurden die Punkte D4 und D2 auf (C2 + C4)/2, die Punkte D1 und D3 auf (C1 + C5)/2, die Punkte D5 und D6 auf C0 bezogen.
Die Höhe D – E der Platten wurde mittels des Komparators bei horizontaler Lage des Apparates gemessen.
Die Skala beider Meßinstrumente war in 1/5 mm eingeteilt; ein Okularmikrometer im Ablesemikroskop mit verschiebbarem Doppelfaden gab an seiner Schraubentrommel die 1/1000 mm. Die Differenzen bei mehrmaliger Einstellung auf denselben Punkt blieben stets unter 1/1000, so daß die folgenden Zahlen sämtlich, was zufällige Fehler anbetrifft, auf 1/1000 mm genau sind. Messungsprotokolle vgl. Anhang p. 543.
Die Messungsresultate sind:
| A′ – B′ | = 1,9693 cm |
| B′ – C | = 2,0048 |
| D – C | = 1,7296 |
| D – E | = 1,4838 |
Die Abstände B′ – D und E – C ergeben sich leicht durch Subtraktion.
Weitaus die größten Schwierigkeiten bot eine genaue Messung des Abstandes der Platten.
Die Dicke der Quarzstückchen war bereits in der Zeissschen Fabrik, die die Verfertigung übernommen hatte, gemessen und zu 0,1242 cm ± 0,0001 gefunden worden.
Wenn nun auch das Einschieben der Quarzplättchen zwischen die Kondensatorplatten mit größter Vorsicht und Sauberkeit geschah, so schien es mir doch nicht unbedingt sicher, daß nicht kleine Staubteilchen mit hineingelangten und den Abstand vergrößerten. Es wurde deshalb der Versuch gemacht, den Abstand der Kondensatorplatten am fertig montierten Apparat zu messen. Leider gelang es nicht, diese Messung
Walter Kaufmann: Über die Konstitution des Elektrons. Johann Ambrosius Barth, Leipzig 1906, Seite 504. Digitale Volltext-Ausgabe bei Wikisource, URL: https://de.wikisource.org/w/index.php?title=Seite:%C3%9Cber_die_Konstitution_des_Elektrons_(1906).djvu/18&oldid=- (Version vom 20.8.2021)
